一方面可以根據(jù)需要合成平均粒徑在20nm~100nm范圍的任意尺度的磷灰石納米粒子溶膠:另一方面可以獲得粒子粒度分布范圍窄的納米粒子。 實(shí)現(xiàn)了磷灰石納米粒子形貌的控制合成。利用透射電鏡和原子力顯微鏡表征了控制生長(zhǎng)的納米磷灰石,粒子呈近似球形,粒子形貌均勻并且粒度分布范圍窄。平均粒徑為75.7nm的磷灰石顆粒中最大粒子與最小粒子粒徑差為15.8nm,粒徑偏差僅為10%。...
化學(xué)氣相沉積法、氣相濃縮法和低溫噴霧熱解法等物理方法需要及其復(fù)雜和昂貴的制備系統(tǒng)。共沉淀法制備的摻雜型氧化鋅納米晶體粒徑分布寬并且形貌不可控。因此,同時(shí)精確的控制氧化鋅基納米晶體的形貌和理想的電導(dǎo)率依然是一個(gè)巨大的挑戰(zhàn)。 在國(guó)家基金委和中科院的大力支持下,楊小牛課題組發(fā)明了一種高電導(dǎo)率鋁摻雜氧化鋅納米粉體及其制備方法。...
透射電鏡比較適合納米粉體樣品的形貌分析,但顆粒大小應(yīng)小于300nm,否則電子束就不能透過(guò)了。對(duì)塊體樣品的分析,透射電鏡一般需要對(duì)樣品進(jìn)行減薄處理。透射電鏡可用于觀測(cè)微粒的尺寸、形態(tài)、粒徑大小、分布狀況、粒徑分布范圍等,并用統(tǒng)計(jì)平均方法計(jì)算粒徑,一般的電鏡觀察的是產(chǎn)物粒子的顆粒度而不是晶粒度。...
透射電鏡可用于觀測(cè)微粒的尺寸、形態(tài)、粒徑大小、分布狀況、粒徑分布范圍等,并用統(tǒng)計(jì)平均方法計(jì)算粒徑,一般的電鏡觀察的是產(chǎn)物粒子的顆粒度而不是晶粒度。高分辨電子顯微鏡(HRTEM)可直接觀察微晶結(jié)構(gòu),尤其是為界面原子結(jié)構(gòu)分析提供了有效手段,它可以觀察到微小顆粒的固體外觀,根據(jù)晶體形貌和相應(yīng)的衍射花樣、高分辨像可以研究晶體的生長(zhǎng)方向。...
Copyright ?2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP備07018254號(hào) 京公網(wǎng)安備1101085018 電信與信息服務(wù)業(yè)務(wù)經(jīng)營(yíng)許可證:京ICP證110310號(hào)