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Hysitron TS 77 Select 納米壓痕儀可以精確測噩磨損量和磨損率隨接觸力\滑動(dòng)速度和磨損次數(shù)的變化

參考報(bào)價(jià): 面議 型號(hào): Hysitron TS 77 Select 納米壓痕儀
品牌: 布魯克 產(chǎn)地: 美國
關(guān)注度: 1016 信息完整度:
樣本: 典型用戶: 暫無
儀器種類納米壓痕/劃痕儀(一體化)價(jià)格范圍100萬-150萬
熱漂5壓頭類型配備6種容易互換的機(jī)械頭
最大摩擦力 ~20N位移分辨率 3uN
可實(shí)現(xiàn)位移范圍 120 ╳ 120 mm有效載荷分辨率~100mN
最大壓痕深度500um有效加載載荷范圍~20N
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AI問答
可以做哪些實(shí)驗(yàn),檢測什么? 可以用哪些耗材和試劑?

TS  Select 提供比傳統(tǒng)納米壓痕測試快180倍的高速測試能力。在寫秒兩次的納米壓痕測試速度下, 可以在幾分鐘內(nèi)得到非均相材料的高分辨率力學(xué)性能圖像  。此外, 高 速測試可以快速采集和統(tǒng)計(jì)分析大量測試數(shù)據(jù), 從而提高則罩結(jié)果的可信度。

 

原位SPM成像

實(shí)現(xiàn)  的納米力學(xué)

 

 

布魯克原位掃描探針顯微技術(shù)( SPM ) 利用納米力學(xué)測試的壓頭掃描樣品表面從而實(shí)現(xiàn)表面形貌成像。同—尺度下的力學(xué)測試和形貌掃描保證了納米力學(xué)表征結(jié)果的   和可靠性。原位 SPM 成像可以實(shí)現(xiàn)納米尺度的精確定位, 確保力學(xué)測試在材料上指定的位置進(jìn)行。

 

磨損測試

定量納米尺度耐磨性能

 

 

利用TS Select 的SPM 原位掃描成像技術(shù) , 可以精確測噩磨損量和磨損率隨接觸力\滑動(dòng)速度和磨損次數(shù)的變化。得 益千寬泛的空間測噩范圍, TS  Select可以輕松實(shí)現(xiàn)局部微觀結(jié)構(gòu)、界面和薄膜的摩擦性能測試。

 

TS Select 控制軟件

簡化的系統(tǒng)操作和數(shù)據(jù)分析

 

布魯克 S Select 控制和分析軟件包專門針對(duì)測試過程進(jìn)行了精簡優(yōu)化。優(yōu)化內(nèi)容涵蓋了樣品加載、測試設(shè)置、測試執(zhí)行和數(shù)據(jù)分析。TS Select 控制軟件集成了自動(dòng)化樣品測試和儀器校準(zhǔn)程序, 來實(shí)現(xiàn)簡單、  和無誤的表征。

 

Hysitron TS Select Options

 

動(dòng)態(tài)納米壓痕 納米劃痕

 

動(dòng)態(tài)納米壓痕通過在準(zhǔn)靜態(tài)力上登加—個(gè)小的振蕩力來實(shí)現(xiàn)材料表面硬度和模量隨深度變化的連續(xù)測星。 基于—個(gè)針對(duì)動(dòng)態(tài)測試優(yōu)化的電容傳感器和一個(gè)集成的鎖相放大器, 動(dòng)態(tài)納米壓痕非常適用千表征力學(xué)性能與測試深度、 頻率和時(shí)間的關(guān)系。

 

納米劃痕利用   個(gè)靜電驅(qū)動(dòng)的二維傳感器來精確控制法向力, 同時(shí)測星探針移動(dòng)所需的橫向力。 由于其橫向位移不依賴千電動(dòng)樣品臺(tái), 納米劃痕提供了市場上最靈敏和最可靠的納米尺度摩擦和薄膜粘附力的測噩手段。

 

OnlyTS 77 Select

?提供核心測試技術(shù)的基本工具包:包括納米壓痕、 動(dòng)態(tài)納米壓痕、 納米劃痕、 納米磨損和原位SPM成像

?通過靜電驅(qū)動(dòng)的電容式位移傳感器實(shí)現(xiàn)高靈敏度和低熱漂移

?具有快速力學(xué)性能成像和大數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析的快速壓痕功能

?通過直觀易用的軟件設(shè)計(jì),使入門級(jí)操作人員都能夠進(jìn)行可靠的測呈

?通過預(yù)先編入基于ISO 14577和ASTM E2546標(biāo)準(zhǔn)的測試函數(shù),使測試設(shè)備簡單易用

?自動(dòng)化的系統(tǒng)校準(zhǔn)和多樣品程序化測試可以大大縮減測試周期


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注:該產(chǎn)品未在中華人民共和國食品藥品監(jiān)督管理部門申請(qǐng)醫(yī)療器械注冊(cè)和備案,不可用于臨床診斷或治療等相關(guān)用途

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