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Bruker三維光學(xué)顯微鏡(白光干涉儀)

參考報價: 面議 型號: Bruker三維光學(xué)顯微鏡(白光干涉儀)
品牌: 布魯克 產(chǎn)地: 美國
關(guān)注度: 1173 信息完整度:
樣本: 典型用戶: 暫無
價格范圍80萬-100萬
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AI問答
可以做哪些實驗,檢測什么? 可以用哪些耗材和試劑?


三維光學(xué)顯微鏡

布魯克作為qiu三維表面測量與觀察業(yè)界的ling dao者,提供從微觀如MEMS(微機(jī)電系統(tǒng))到宏觀如發(fā)動機(jī)腔體等不同大小樣品的快說非接觸式分析。如今的三維顯微鏡已歷十代,在原有Wyko?專有技術(shù)基礎(chǔ)上,不斷積累創(chuàng)新,來保證面對各種應(yīng)用環(huán)境時精確三維測量所需的高靈敏度和穩(wěn)定性;而這一挑戰(zhàn)往往是其他測量技術(shù)或測量系統(tǒng)難以克服的。

布魯克三維光學(xué)顯微系統(tǒng)在業(yè)界一直以zui佳服務(wù)和支持著稱,在性能穩(wěn)定性上一貫口碑良好。從研究型實驗室到生產(chǎn)型車間和半導(dǎo)體無塵間,數(shù)以幾千計的系統(tǒng)被廣泛使用。作為專門為先進(jìn)質(zhì)量控制和研發(fā)設(shè)計的測量儀器,可用于精密加工制造類應(yīng)用的監(jiān)控,在汽車、航空航天、高亮度LED、太陽能、半導(dǎo)體和 器械領(lǐng)域,布魯克總有一款適合您應(yīng)用和與預(yù)算的三維光學(xué)顯微測量系統(tǒng)。

 

 

Bruker布魯克ContourX-100 3D光學(xué)輪廓儀

粗糙度測量的精簡而經(jīng)濟(jì)的臺式

 

ContourX-100光學(xué)輪廓儀以zui佳的價格為準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式表面計量樹立了新的標(biāo)桿。小尺寸系統(tǒng)采用流線型封裝,可提供無與倫比的2D / 3D高分辨率測量功能,并結(jié)合了數(shù)十年專有的布魯克白光干涉測量(WLI)創(chuàng)新技術(shù)。具有測量功能的臺式系統(tǒng)具有業(yè)界zui先進(jìn)的用戶友好界面,可直觀訪問廣泛的預(yù)編程過濾器庫,并用于精密加工的表面,厚膜和摩擦學(xué)應(yīng)用分析。下一代增強功能包括新的5 MP攝像頭,更新的載物臺和新的測量模式,以實現(xiàn)更大的靈活性。您不會發(fā)現(xiàn)比ContourX-100更有價值的臺式設(shè)備。

 

ContourX-100 3D光學(xué)輪廓儀

輪廓GT-K

無與倫比的計量

 

ContourX-100輪廓儀是非接觸表面計量,表征和成像領(lǐng)域超過四十年的專有光學(xué)創(chuàng)新和行業(yè)ling dao者的結(jié)晶。該系統(tǒng)利用3D WLI2D成像技術(shù)在一次采集中進(jìn)行多種分析。 ContourX-100在從0.05%到100%的反射率的所有表面情況下都非常堅固。

 

輪廓X-100

WLI為所有目標(biāo)提供恒定且zui終的垂直分辨率。

輪廓X-100

ContourX-100手動平臺。

無與倫比的價值和分析

 

ContourX-100臺式機(jī)具有成千上萬的定制分析功能以及布魯克簡單而強大的VisionXpress?和Vision64?用戶界面,為實驗室和工廠車間的生產(chǎn)率進(jìn)行了優(yōu)化。硬件和軟件相結(jié)合,可提供對ding 高通量光學(xué)性能的簡化訪問,完全超越了同類計量技術(shù)。

 

 

 

Bruker布魯克ContourX-200 3D光學(xué)輪廓儀

用于表面紋理計量的靈活臺式

 

ContourX-200光學(xué)輪廓儀將先進(jìn)的特性,可自定義的選項以及易用性 融合,可提供yi 的快速,準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式3D表面度量。具有測量功能的小尺寸系統(tǒng)使用較大的FOV 5 MP數(shù)碼相機(jī)和新型電動XY位移臺,可提供毫不妥協(xié)的2D / 3D高分辨率測量功能。 ContourX-200還配有業(yè)界zui先進(jìn)的操作和分析軟件Vision64?。新型VisionXpress?提供了更易于使用的界面和簡化的功能,可訪問廣泛的預(yù)編程濾鏡和分析庫,用于精密加工的表面,厚膜,半導(dǎo)體,眼科, 設(shè)備,MEMS和摩擦學(xué)應(yīng)用。 ContourX-200具有無與倫比的Z軸分辨率和精度,在不限制傳統(tǒng)共聚焦顯微鏡和競爭性標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)輪廓儀的情況下,提供了布魯克專有的白光干涉儀(WLI)技術(shù)的所有業(yè)界公認(rèn)的優(yōu)勢。

 

ContourX-200 3D光學(xué)輪廓儀

輪廓GT-K

毫不妥協(xié)的yi 計量

 

基于ContourX-200光學(xué)輪廓儀超過四十年的專有WLI創(chuàng)新,該輪廓儀展現(xiàn)出定量計量所需的低噪聲,高速,高精度和高精度結(jié)果。通過使用多個目標(biāo)和集成的特征識別功能,可以在各種視野內(nèi)以亞納米級的垂直分辨率跟蹤特征,從而為非常不同的行業(yè)中的質(zhì)量控制和過程監(jiān)控應(yīng)用提供了與比例無關(guān)的結(jié)果。 ContourX-200在從0.05%到100%的反射率的所有表面情況下都非常堅固。

 

輪廓X-200

WLI為所有目標(biāo)提供恒定且zui終的垂直分辨率。

輪廓X-200

ContourX-200電動載物臺。

zui廣泛的應(yīng)用分析能力

 

利用強大的VisionXpressVision64用戶界面,ContourX-200提供了數(shù)千種定制分析,以提高實驗室和工廠車間的生產(chǎn)率。系統(tǒng)新相機(jī)提供的更大FOV和新型電動XY工作臺提供的靈活性,為各種樣品和零件提供了更大的靈活性和更高的通量。硬件和軟件相結(jié)合,可提供對ding 光學(xué)性能的簡化訪問,完全超越了同類計量功能。

 

 

 

Bruker布魯克ContourX-500 3D光學(xué)輪廓儀

用于3D計量的全自動臺式

 

ContourX-500光學(xué)輪廓儀是用于快速,非接觸式3D表面度量的世界上zui全面的自動化臺式系統(tǒng)。該系統(tǒng)集成了布魯克專有的傾斜/傾斜光學(xué)頭,可以完全編程,以在一定角度范圍內(nèi)測量表面特征,同時zui大程度地減少跟蹤誤差。具有測量功能的ContourX-500具有無與倫比的Z軸分辨率和精度,并在更小的占地面積下提供了布魯克白光干涉儀(WLI)落地式機(jī)型的所有業(yè)界公認(rèn)的優(yōu)勢。利用業(yè)界zui先進(jìn)的用戶界面,ContourX-500可以直觀地訪問廣泛的預(yù)編程過濾器和分析庫。借助其新的USI通用掃描模式,可以輕松地針對zui廣泛的復(fù)雜應(yīng)用定制分析器,從精密加工表面和半導(dǎo)體工藝的QA / QC計量學(xué)到眼科和MEMS器件的RD表征。

 

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ContourX-500 3D光學(xué)輪廓儀

輪廓GT-K

先進(jìn)的自動化

 

布魯克專有的頭部傾斜/傾斜為生產(chǎn)設(shè)置和檢查提供了無與倫比的用戶靈活性。通過將自動傾斜/傾斜功能與顯微鏡頭中的光路相結(jié)合,布魯克將檢測點與視線相結(jié)合,而與傾斜無關(guān)。這樣可以減少操作員的干預(yù),提供zui大的可重復(fù)性。此功能與自動登臺和物鏡相結(jié)合,使ContourX-500非常適合“按需測量”的工業(yè)需求,而且占地面積小。

 

輪廓X-500

傳統(tǒng)的俯仰和滾動舞臺設(shè)計需要操作員進(jìn)行調(diào)整

五個運動軸以保持在線的檢查點

視線進(jìn)行測量。頭部獨特的布魯克提示/傾斜

設(shè)計在檢查點上保持了視線-

不論傾斜度如何-都能優(yōu)化圖像采集和

zui快的數(shù)據(jù)記錄時間。

輪廓X-500

WLI為所有目標(biāo)提供恒定且zui終的垂直分辨率。

無與倫比的價值和分析

 

ContourX-500具有成千上萬的自定義分析功能以及布魯克簡單易用但功能強大的VisionXpress?和Vision64?用戶界面,為實驗室和工廠車間的生產(chǎn)率進(jìn)行了優(yōu)化。這種獨特的硬件和軟件組合提供了對高可重復(fù)性和高通量計量學(xué)測量的簡化訪問,從而超過了同類計量能力。



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