CAMTEK  自動光學檢驗AOI設備 在 碳化硅(SiC) 領(lǐng)域的應用

碳化硅碳化硅晶片是未來一代半導體材料,具有獨特的電學性能和優(yōu)異的熱性能。 與硅片和砷化鎵晶片相比,碳化硅晶片更適合高溫和高功率設備應用程序。
Camtek開發(fā)專用的檢驗和計量解決方案,以及分析工具來解決這一新興市場。

功能

?處理透明材料區(qū)域使用黑暗查克在晶片上
?背光查克的早期階段的過程
?朋友處理透明的晶片
?eef——邊緣控制能力
?自動缺陷分類(ADC)基于收益管理的深度學習
?弓測量
?預測收益率-晶圓缺陷位置精度< 2um

技術(shù)

?sts -表面形貌傳感器
?背光

產(chǎn)品

EagleT-AP

為先進的包裝設計市場,EagleT-AP提供了2 d和3 d檢驗和計量在同一平臺上,同時保持極高的性能和吞吐量水平。

EagleT-i

設計的速度和準確性,Camtek EagleT-i是一個zui快的和zui精確的2 d檢查工具在市場上。

咨詢：182 6326 2536（微信同號）

CAMTEK 自動光學檢驗AOI設備 在 碳化硅(SiC) 領(lǐng)域的應用信息由北京亞科晨旭科技有限公司為您提供，如您想了解更多關(guān)于CAMTEK 自動光學檢驗AOI設備 在 碳化硅(SiC) 領(lǐng)域的應用報價、型號、參數(shù)等信息，歡迎來電或留言咨詢。

注：該產(chǎn)品未在中華人民共和國食品藥品監(jiān)督管理部門申請醫(yī)療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關(guān)用途