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S8000G型鎵離子聚焦離子束雙束掃描電鏡

參考報價: ¥7000000 RMB(人民幣) 型號: S8000G FIB-SEM
品牌: 泰思肯 產(chǎn)地: 捷克
關(guān)注度: 1130 信息完整度:
樣本: 典型用戶: 暫無
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AI問答
可以做哪些實驗,檢測什么? 可以用哪些耗材和試劑?

S8000G FIB-SEM

S8000G是TESCAN最新S8000系列掃描電鏡的第一個新成員,是一款超高分辨雙束FIB-SEM系統(tǒng),它可以提供無與倫比的圖像質(zhì)量,具有強(qiáng)大的擴(kuò)展分析能力,并能以極佳的精度、效率完成復(fù)雜的納米加工和操作,可滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和學(xué)術(shù)界研究的所有需求。 S8000G FIB-SEM的優(yōu)點: 新一代鏡筒內(nèi)電子加速、減速技術(shù),保證了復(fù)雜樣品的低電壓高分辨觀測能力 首次配置的靜電-


 

S8000 系列(NEW ! )S8000G FIB-SEM

 

S8000G是TESCAN最新S8000系列掃描電鏡的第一個新成員,是一款超高分辨雙束FIB-SEM系統(tǒng),它可以提供無與倫比的圖像質(zhì)量,具有強(qiáng)大的擴(kuò)展分析能力,并能以極佳的精度、效率完成復(fù)雜的納米加工和操作,可滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和學(xué)術(shù)界研究的所有需求。

S8000G FIB-SEM的優(yōu)點:

· 新一代鏡筒內(nèi)電子加速、減速技術(shù),保證了復(fù)雜樣品的低電壓高分辨觀測能力

· 首次配置的靜電-電磁復(fù)合物鏡,物鏡無磁場外泄,實現(xiàn)磁性樣品高分辨成像及分析

· 配置4個新一代探測器,可實現(xiàn)9種圖像觀測,對樣品信息的采集更加全面

· 配置大型樣品室,有超過20個擴(kuò)展接口,為原位觀測、分析創(chuàng)造了良好的工作環(huán)境

· 可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴(kuò)展分析附件,并獨(dú)家實現(xiàn)與TOF-SIMS、Raman聯(lián)用

· 新一代操作軟件和自動功能,F(xiàn)IB鏡筒具有全自動的離子鏡筒對中,極大簡化了操作

· 概述

新一代 Orage? Ga FIB鏡筒,適用于各類具有挑戰(zhàn)性的納米加工任務(wù)

TESCAN S8000配置了最新的BrightBeam?鏡筒,實現(xiàn)了無磁場超高分辨成像,可以最大化的實現(xiàn)各種分析,包括磁性樣品的分析。新型鏡筒中的電子光路設(shè)計增強(qiáng)了低能量電子成像分辨率,特別適合對電子束敏感樣品和不導(dǎo)電樣品的分析。創(chuàng)新的Orage? Ga FIB鏡筒配有最先進(jìn)的離子槍和離子光學(xué)鏡筒,使得TESCAN S8000G成為了世界頂級的樣品制備和納米圖形成型的儀器。

S8000G束流可達(dá)100nA,具有超快速的加工能力,新穎的SmartMill高速切割功能,使得加工效率提升一倍。
S8000G離子能量最低可達(dá)500eV,擁有更優(yōu)秀的低壓樣品制備能力,可以快速制備無損超薄TEM樣品。
可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴(kuò)展分析附件,并獨(dú)家實現(xiàn)與TOF-SIMS、Raman一體化。



新一代OptiGIS?氣體注入系統(tǒng)

S8000可配置最新的多種探測器,包括透鏡內(nèi)Axial detector 以及 Multidetector,可選擇不同角度和不同能量來收集信號,體現(xiàn)更多種類的信息,同時獲得更好的表面靈敏度和對比度。S8000G有兩種氣體注入系統(tǒng)可供選擇,標(biāo)準(zhǔn)的5針-GIS和新一代OptiGIS單針-GIS,單針的OptiGIS支持通過更換氣罐來更換化學(xué)氣體,避免了以往多針氣體注入系統(tǒng)樣品倉內(nèi)占用空間大的問題。

兩種氣體注入系統(tǒng)均可以選擇多種沉積氣體,其中W、Pt、C等用于導(dǎo)電材料沉積,SiOx用于絕緣材料沉積,XeF2、H2O等用于增強(qiáng)刻蝕,或其它定制氣體。



新一代Essence?操作軟件,更簡單、高效的操作平臺

S8000可配置最新的多種探測器新操作軟件極大簡化了用戶界面,能快速訪問各主要功能,減少了繁瑣的下單菜單操作,并優(yōu)化了操作流程向?qū)?,易于學(xué)習(xí),兼容多用戶需求,可根據(jù)工作需要定制操作界面。

新穎的樣品艙內(nèi)3D空間位置和移動軌跡模擬功能,可避免誤操作,造成碰撞。


樣品艙內(nèi)的3D空間位置和移動軌跡模擬


集成多項創(chuàng)新性設(shè)計,拓展新應(yīng)用領(lǐng)域的利器

S8000可配置最新的多種探測器S8000G是TESCAN新一代FIB-SEM的首個成員,集成了BrightBeam? SEM鏡筒、Orage? GaFIB鏡筒、OptiGIS氣體注入系統(tǒng)等多項創(chuàng)新設(shè)計,在高分辨能力、原位應(yīng)用擴(kuò)展能力和分析擴(kuò)展能力方面達(dá)到了業(yè)內(nèi)頂級水平,此外新一代操作流程和軟件也給使用者帶來更舒適、高效的體驗。

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S8000G型鎵離子聚焦離子束雙束掃描電鏡信息由北京亞科晨旭科技有限公司為您提供,如您想了解更多關(guān)于 S8000G型鎵離子聚焦離子束雙束掃描電鏡報價、型號、參數(shù)等信息,歡迎來電或留言咨詢。

注:該產(chǎn)品未在中華人民共和國食品藥品監(jiān)督管理部門申請醫(yī)療器械注冊和備案,不可用于臨床診斷或治療等相關(guān)用途

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